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SN74LVTH18652APM 数据手册 Datasheet - TI

制造商：
TI
分类：
逻辑,芯片
封装：
LQFP-64
描述：
3.3V ABT Scan Test Devices With 18Bit Transceivers And egisters 64-LQFP -40℃ to 85℃
文档：

SN74LVTH18652APM 数据手册 (38 页) Hot

封装外形尺寸在 36页

更新时间： 2023/12/02 18:49:59 (UTC+8)

SN74LVTH18652APM 数据手册PDF (38 页)

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SN74LVTH18652APM 文档

SN74LVTH18652APM 数据手册

38 页, 611 KB

3.3V ABT Scan Test Devices With 18Bit Transceivers And egisters 64-LQFP -40℃ to 85℃

3.3V ABT Scan Test Devices With 18Bit Transceivers And Registers 64-LQFP -40℃ to 85℃

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